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[期刊论文] 作者：王庚林,李宁博,李飞,刘永敏,,
来源：中国电子科学研究院学报 年份：2014
密封电子元器件在长时间存放后,会存在无法检测的现象.当超过密封件细漏检测的最长候检时间时,应再次压氦,然后进行细检漏.按现行的各种规范的规定,压氦法和预充氦法再压氦的...
[会议论文] 作者：王庚林;李宁博;李飞;刘永敏;,
来源：中国真空学会质谱分析和检漏专业委员会第十七届年会、中国计量测试学会真空计量专业委员会第十二届年会 年份：2013
在密封电子元器件的生产、交付与验收过程中,按产品总规范、详细规范或合同的规定,同一密封件可能需经受多次密封性氦质谱细漏检测.首次检测采用压氦法或预充氦法,经长时间存...
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