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[学位论文] 作者：胡哲纲,
来源：桂林电子科技大学 年份：2010
随着超大规模集成电路(Very Large Scale Integrated circuites,VLSI)设计和制造技术地迅速发展,电路尺寸日益减小,复杂程度愈来愈高,VLSI测试成为迫切需要解决的问题,而可测...
[期刊论文] 作者：胡哲纲,车伟扬,
来源：电子世界 年份：2020
分布式UPS蓄电池性能检测,是现阶段蓄电池远程应用领域内一个比较紧迫的课题,研究者提出蓄电池在线检测系统,这是为了能够在线实现远程监测的实际效果。分布式UPS蓄电池检测...
[期刊论文] 作者：胡哲纲,谈恩民,,
来源：国外电子测量技术 年份：2010
随着集成电路工艺和规模的飞速发展，使得VLSI测试变得日益困难，因此测试技术成为VLSI领域的一个重要研究课题。在分析VLSI测试的瓶颈问题基础上，介绍了几种电路分块算法，分析了分......
[期刊论文] 作者：朱湘宝,陈旭,胡哲纲,,
来源：中国新通信 年份：2017
社会不断发展,促进我国经济和科学技术的发展,使得我国步入到物联网时代。物联网技术在我国的应用,使得我国不断朝向信息化社会发展,对人们的生产和生活带来较大影响,提高人们工作效率,改变传统生活方式。但是由于物联网技术装置系统平台,结构易购性强,耦合性高......
[期刊论文] 作者：陈旭,胡哲纲,许胜祥,阳奇,
来源：电子世界 年份：2020
在分析半导体能带结构的基础上,给出了量子阱结构半导体材料增益的理论分析模型,并对考虑价带混合效应的应变量子阱结构半导体的材料增益特性进行了数值仿真分析。基于集成双...
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