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[学位论文] 作者：谈恩民,,
来源：上海交通大学 年份：2007
BIST(Built-In Self-Test,内建自测试)技术是在CUT(Circuit Under Test,被测电路)中嵌入一测试结构来实施测试工作的。作为一种可实现全速测试(at-speed)的DFT(Design For Te...
[期刊论文] 作者：张勇,谈恩民,
来源：桂林电子工业学院学报 年份：2004
板级SRAM的内建自测试的设计,是为了确保板级SRAM的可靠性.考虑到板级SRAM各种故障模型,选择使用March C-SOF算法,其对呆滞故障、跳变故障、开路故障、地址译码器故障和字节...
[期刊论文] 作者：谈恩民,张勇,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2004
本文提出一种新型的可编程存储器BIST控制器设计.它使用新型的指令格式,可以实现各种March算法.通过使用这种指令格式能减少指令数据量和字节内故障的测试时间.为了进行诊断...
[期刊论文] 作者：谈恩民,梁晓琳,刘建军,谈恩民,,
来源：计算机系统应用 年份：2008
提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢...
[期刊论文] 作者：耿富平, 谈恩民,,
来源：国外电子测量技术 年份：2014
为了实现在ARM环境下的嵌入式应用平台,选取宿主机与ARM芯片S3C6410搭建了嵌入式交叉开发硬件平台,在此基础上安装了无需额外安装函数库的新一代EABI交叉编译器GCC,并使用该...
[期刊论文] 作者：谈恩民,李清清,,
来源：微电子学与计算机 年份：2013
在片上系统芯片（System-on-Chip，SoC）测试优化技术的研究中，测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素．在基于测试访问机制（TestAccessMechanism，TAM）分组策略的基础上，以测试......
[期刊论文] 作者：谈恩民,王鹏,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2011
在系统芯片SoC测试中,测试时间与测试功耗是两个互相影响的因素。多目标进化算法能够处理相互制约的多目标同时优化问题。在无约束条件下,对SoC测试时间与测试功耗建立联合优...
[期刊论文] 作者：谈恩民,张立刚,,
来源：国外电子测量技术 年份：2010
集成电路深亚微米工艺技术和设计技术的迅速发展使得SoC存储器的测试问题日益成为制约其技术发展的“瓶颈”。为解决SoC中存储器走线和多IP核测试等问题,本文从嵌入式核测试...
[期刊论文] 作者：冷冰,谈恩民,,
来源：国外电子测量技术 年份：2015
针对内建自测试（BIST）技术在SoC测试上的应用问题,提出了一种在IEEE 1500标准下对IP核的BIST设计方法。该方法根据IEEE 1500标准的测试结构和规范研究讨论了测试壳的各个组成单...
[期刊论文] 作者：谈恩民,詹琰,,
来源：微电子学与计算机 年份：2011
在分析和介绍了海明距离与笛卡尔距离的基础上,通过改进细胞自动机生成的测试矢量间的链接性,提出了结合预确定距离的测试矢量优化方法.该方法通过设计最大海明距离和笛卡尔...
[期刊论文] 作者：谈恩民,金锋,
来源：微电子学与计算机 年份：2013
嵌入式存储器在SOC中所占的面积比越来越大,同时也对嵌入式存储器测试技术提出了新的挑战.IEEE1500标准为IP核设计商与集成商制订了标准的测试接口.基于此标准,本文完成了针...
[期刊论文] 作者：谈恩民,王黎,,
来源：电子设计工程 年份：2009
在BIST（内建自测试）过程中，线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器，为保障故障覆盖率，会产生很长的测试矢量，从而消耗了大量功耗。在分析BIST结构和功耗模型的基础上，针对test-per-s......
[期刊论文] 作者：谈恩民,李贞,,
来源：微电子学与计算机 年份：2016
SOC测试中的测试数据具有数据量大、游程长等特征,对此提出一种新的测试数据压缩方法——混合前缀游程编码.通过改进传统双游程编码思想,在每一个码组内添加带有特殊前缀的新...
[期刊论文] 作者：谈恩民,叶宏,,
来源：微电子学与计算机 年份：2006
测试生成器TPG（Tesl Panern Generation）的构造是BIST（Built—In Self-Test）测试策略的重要组成部分。文章结合加权伪随机测试原理及低功耗设计技术，提出了一种基于低功耗及加权优...
[期刊论文] 作者：谈恩民,王晨,
来源：计算机工程与科学 年份：2022
针对模拟电路故障诊断中故障信息的多特征、高噪声以及故障诊断时间较长的问题,提出了一种基于H-DELM的模拟电路故障诊断模型.该模型的架构单元为双随机隐藏层的深度极限学习机DELM-AE,2个随机隐藏层用于编码特征,1个输出层用于解码特征.将DELM-AE以分层结构堆......
[期刊论文] 作者：谈恩民, 范玉祥,,
来源：计算机科学 年份：2018
集成电路在测试过程中的测试功耗通常会远远高于集成电路正常工作时的功耗,而过高的测试功耗可能会造成电路损坏或是芯片烧毁。为了降低测试功耗,提出了一种基于海明排序进行...
[期刊论文] 作者：谈恩民,何正岭,,
来源：国外电子测量技术 年份：2015
在实际的模拟电路中，电路故障种类很多，但是测试节点的数目是有限的，导致了不同的故障类之间可能存在重叠现象。对于故障重叠问题，采用常规的马氏距离诊断方法，误诊率会很高。阐述......
[期刊论文] 作者：陆颖莹, 谈恩民,,
来源：桂林电子科技大学学报 年份：2012
为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性，提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案。结合存储器测试理论及边界扫描逻辑簇测试技术，研究基于TCL脚本语言......
[期刊论文] 作者：曾玲辉,谈恩民,,
来源：桂林电子科技大学学报 年份：2013
针对模拟接收机电路的复杂性,提出一种通用的数字中频软件无线电接收系统的设计方案。采用AD9460和AD6620分别作为模数转换器和数字下变频器来构成中频软件无线电接收系统,并...
[期刊论文] 作者：刘海,谈恩民,乐开端,,
来源：机械与电子 年份：2009
介绍了一种基于ARM7的铁轨直线度激光测量系统，该系统通过CPLD控制CMOS图像传感器OV9625进行图像的采集与存储，采用LPC2214对采集图像先进行计算，再输出计算结果。...
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