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[学位论文] 作者：陆思安,,
来源： 年份：2003
随着集成电路制造技术的快速发展，系统芯片SOC逐渐成为现实。SOC将一个完整的系统集成在单个芯片上，从而缩小了系统的体积；SOC减少了SOB系统中芯片与芯片之间互连延时，从而提高了......
[学位论文] 作者：陆思安,
来源：上海大学 年份：2000
随着新型电力电子器件的不断涌现以及微电子技术的不断扫发展,PWM变频技术也获 得了飞速发展.该文阐述了目前常用的三种变频技术--正弦波SPWM控制、电压空间矢量SVPWM控制、...
[期刊论文] 作者：陆思安,何剑春,等,
来源：半导体学报 年份：2002
从可测性设计角度讨论了信息安全处理芯片的芯片级测试控制器的设计以及相应核的可测性设计，综合结果显示，所设计的芯片级测试控制器所占用的面积代价非常小。...
[期刊论文] 作者：陆思安,史峥,严晓浪,
来源：微电子学 年份：2001
随着集成电路的规模不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要.回顾了一些常用的可测性设计技术,分别讨论了系统芯片(SOC)设计中的模块可测性设计和芯片可测性设计策略....
[期刊论文] 作者：王超,沈海斌,陆思安,严晓浪,
来源：微电子学 年份：2004
在系统芯片SOC(system on a chip)设计中实现IP核测试复用的芯片测试结构一般包含两个部分:1)用于传送测试激励和测试响应的片上测试访问机制TAM;2)实现测试控制的芯片测试控...
[期刊论文] 作者：陆思安,严晓浪,沈海斌,何乐年,
来源：电路与系统学报 年份：2003
电源噪声在深亚微米设计中正变得越来越突出,而因电源噪声引起的电路故障测试也变得越来越重要.本文针对这一情况提出了动态电流测试来实现由电源噪声引起的故障测试.与IddQ...
[期刊论文] 作者：陆思安,何乐年,沈海斌,严晓浪,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2004
随着集成电路设计规模的不断增大.在芯片中特别是在系统芯片SOC(system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要.文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实...
[期刊论文] 作者：陆思安,何剑春,严晓浪,何乐年,
来源：半导体学报 年份：2004
从可测性设计角度讨论了信息安全处理芯片的芯片级测试控制器的设计以及相应核的可测性设计.综合结果显示,所设计的芯片级测试控制器所占用的面积代价非常小....
[期刊论文] 作者：何剑春,陆思安,何乐年,葛海通,严晓浪,
来源：浙江大学学报(工学版) 年份：2002
超深亚微米(VDSM)工艺下,集成电路的高频、高集成度趋势使互连线间电磁耦合作用不容忽略.首先回顾了典型电感提取方法及实际应用中电感阵稀疏化、模型降阶等问题;基于互连线...
[期刊论文] 作者：陆思安,余龙理,陈必龙,何乐年,严晓浪,
来源：微电子学 年份：2002
随着集成电路的设计规模不断增大,芯片的验证工作变得越来越重要.文章首先回顾了一些常用的验证技术,然后分别讨论了SOC设计中所要进行的模块单独验证、芯片的全功能验证以及...
[期刊论文] 作者：陆思安,严晓浪,李浩亮,沈海斌,何乐年,
来源：浙江大学学报(工学版) 年份：2004
提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决了测试环扫描链在扫描移位过程中的安全移位...
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