搜索筛选:
搜索耗时0.0892秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 1 篇相符的论文内容
发布年度:
[会议论文] 作者：陈健,祝靖,张允武,孙伟锋,顾力晖,张森,
来源：2013年全国博士生学术论坛——电子薄膜与集成器件 年份：2013
本文基于600V体硅外延BCD工艺,完成了一款浮栅驱动芯片的设计.为了增强隔离结构的可靠性,本文提出了一种新型的P型阱、N型阱交替排列的隔离结构,该隔离结构耐压为740V,相对于传统结构增加了7％,当LDMOS漏端电位大于1V,且漏端与高侧电压差为15V时的漏电远小于lμA,......
相关搜索：
