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[会议论文] 作者：魏向军[1]徐清[2],
来源：全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会 年份：2005
掠入射X射线荧光光谱技术(GrazingIncidenceX-RayFluorescence,简称GI-XRF)是常规X射线荧光光谱分析的一个新的分支,在薄膜、多层膜、表面及晶体表面沾污分析方面有其独特的...
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