搜索筛选:
搜索耗时0.0976秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 33 篇相符的论文内容
发布年度:
[期刊论文] 作者:黄近丹,
来源:岩矿测试 年份:1999
采用粉末样品压片制样,土壤标准物质以及人工合成标样为标准,用X射线荧光能谱仪对土壤试样中的Si、K、ca、Ti、Mn、Fe、Sr7种、次量元素进行测定。讨论了基体疚及校正等问题。方法经土壤标样分......
[期刊论文] 作者:黄近丹,,
来源:福建分析测试 年份:2000
采用X射线荧光能谱仪,分别测量基底元素的强度,以求得金薄膜和镀层的厚度。用镀金片检验,当薄膜和镀层厚度t【3.0μm时,测量偏差【0.10μm,方法简便,可方便地用于镀层厚度的...
[期刊论文] 作者:黄近丹,
来源:冶金分析 年份:2001
采用X射线荧光外标实验校正法测定4种主要元素Ag,Cu,Zn,Ni.当被测元素含量<1.0%时,测定的相对标准偏差<0.15%,当1%<被测元素含量<10%时,测定的相对标准偏差<0.40%,本法适合于测定...
[期刊论文] 作者:黄近丹,,
来源:福建分析测试 年份:2016
八十年代初,为判明误差,应用数学、试验设计、数据分析等被广泛应用在分析测试中,因Excel能运算一些的数学公式,使数理统计方法在监测中的应用更为便捷,为查明监测误差,并把...
[期刊论文] 作者:黄近丹,
来源:岩矿测试 年份:1999
采用粉末样品压片制样,土壤标准物质以及人工合成标样为标准,用X 射线荧光能谱仪对土壤试样中的Si、K、Ca 、Ti、Mn 、Fe 和Sr 7 种主、次量元素进行测定。讨论了基体效应及校正等问题。方法经......
[期刊论文] 作者:郑荣华,黄近丹,
来源:分析测试学报 年份:1998
利用Au原子在X射线激发下所发射的Lβ线和M线的强度比值识别样品是镀金还是K金,同时利用这人紫值测定镀金层的厚度,镀金层厚度的测定范围为0~4μm,测定值与标定值的相对误差小于15%。......
[期刊论文] 作者:黄近丹,郑荣华,
来源:测试技术学报 年份:1998
和ED-XRF荧光能谱仪,利用金原子在X射线激发下所发射的Lβ线和Lθ线的强度比值来识别样品是镀金的还是K金。同时利用这个比值的大小来测定镀金层的厚度,可测镀金层厚度0-5μm,最大相对标准偏差......
[期刊论文] 作者:黄近丹,郑荣华,
来源:冶金分析 年份:1999
...
[会议论文] 作者:郑荣华,黄近丹,
来源:第六届全国原子光谱分析学术报告会 年份:1998
该报告所研究的内容,就是从一张含有Au等多种元素谱线的X—荧光能谱图中,如何识别和判定该Au谱线是来自样品表层Au原子还是来自金样口(或者说K金)的Au原子。该文使用EX—6000型X—荧光能谱仪,选择不......
[期刊论文] 作者:黄近丹,林秀华,,
来源:福建分析测试 年份:2011
本文利用X射线荧光能谱仪,外标法定量检测掺钕矾酸钇晶体中的钕,在不破坏晶体情况下,检测结果能满足要求。外标法进行定量检定其准确性取决于仪器稳定的工作条件,样品制备粒...
[期刊论文] 作者:黄近丹,尤志忠,
来源:福建环境 年份:1993
...
[期刊论文] 作者:黄近丹,陈守剑,,
来源:中国检验检测 年份:2004
本文利用X射线荧光能谱仪,外标法测定足金首饰中银在不破坏饰品的情况下,检测结果能满足要求.外标法进行定量检测其准确性取决于仪器稳定的工作条件以及样品形状等外界因素....
[期刊论文] 作者:黄声岚,黄近丹,
来源:福建农业科技 年份:2000
土壤样品元素的准确快速测定对生态环境、植物生长的评价有着重要意义。由于土壤样品组分比较复杂 ,测定时 ,主要成分与微量元素之间往往存在着严重的影响。因此 ,同时测定大...
[期刊论文] 作者:黄近丹,林园,林易晨,,
来源:冶金分析 年份:2016
Pt与Au的原子序数相近,X射线激发下,影响它们荧光强度的诸多因素都非常相近,据此建立了利用金首饰系列标准物质(只含Au、Cu元素)和Pt、Cu峰面积修正,X射线荧光光谱法(XRF)测定铂...
[期刊论文] 作者:黄近丹,林园,林易辰,
来源:海峡科学 年份:2018
介绍了铂首饰中铂、铜二元系列化学成分标准物质的研制。采用中频感应电炉熔炼,制备了铂铜合金化学成分系列标准物质候选物,并制成厚约0.2mm、直径约为1.5cm的薄片;考察了该...
[期刊论文] 作者:陈守剑,王黎明,林园,黄近丹,
来源:中国检验检测 年份:2021
X射线荧光光谱法测定铂首饰中铂,现有的国家铂标准物质中只含有Pt、Pd,而实际铂首饰样品的主成分是Pt,时常伴有Cu、Pd、Ag、Au.本文开展了铂首饰中铂、铜、钯、金、银化学成...
[期刊论文] 作者:陈守剑,王黎明,黄近丹,林园,
来源:福建冶金 年份:2022
本文建立了X射线荧光光谱测定银铜合金中的银,选择不同的标准校准曲线:直接校正法和二元比例法,比较了两种实验结果.实验表明二元比例法优于直接校正法,方法稳定性好、抗干扰能力强、相对标准偏差(RSD)小于0.31%,检测结果与原子吸收光谱法(AAS)一致.......
[期刊论文] 作者:郑荣华,张文芳,黄近丹,李叶农,
来源:光谱实验室 年份:2002
本文利用 XRF金标样的多元素回归方程 ,对 Pt、Pd的荧光强度进行修正 ,修正后的荧光强度当作Au、Ag的荧光强度代入回归方程中 ,利用计算机编程计算铂制品中的 Pt、Au、Pd、Ag...
[期刊论文] 作者:郑荣华,黄近丹,张文芳,李叶农,
来源:分析测试学报 年份:1998
利用Au原子在X射线激发下所发射的Lβ线和M线的强度比值识别样品是镀金还是K金,同时利用这个比值测定镀金层的厚度,镀金层厚度的测定范围为0~4μm,测定值与标定值的相对误差小于15%。......
[期刊论文] 作者:郑荣华,张文芳,黄近丹,李叶农,,
来源:福建分析测试 年份:2002
本文利用XRF金标样的多元素回归方程,对Pt、Pd的荧光强度进行修正,修正后的荧光强度当作Au、Ag的荧光强度代入回归方程中,利用计算机编程计算铂制品中的Pt、Au、Pd、Ag、Cu、...
相关搜索: