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[期刊论文] 作者：王仲楠,王武义,Derek G.Chetwynd,张广玉,,
来源：探测与控制学报 年份：2015
针对通用于一般机构和微、纳机电系统（MEMS/NEMS）的微动磨损测试,新研制了低频往复式微动磨损测试系统。采用微压痕式直接标定方法,首先标定垂直、侧向加载测试的传感器灵敏度,...
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