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[期刊论文] 作者：MariusBazuMihaiTazauanu,李世明,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1995
研究湿度对半导体器件可靠性的影响主要目的有二个：强调湿度作为环境应力因素在失效过程所起的作用，以及模拟可靠性与湿度的相互关系，故而对两种塑料封装的半导体器件（光电子电路......
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