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[会议论文] 作者:J.X.Xiao,L.M.Zheng,X.Renshaw Wang,Z.Huang,S.W.Zeng,K.Han,W.X.Zhou,K.Y.Zeng,J.S.Chen,Ariando,T.Venkatesan,W.W.Cao, 来源:The 23rd International Workshop on Oxide Electronics (第23届国际 年份:2016
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