不可测故障相关论文
对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素。文中提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测......
随着ASIC集成规模越来越大,可测性设计技术在数字系统设计过程中的地位愈发重要.本文在已有的可测性设计基础上,提出了一种简洁有......
对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素。提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测故障......
对时序电路的迭代逻辑阵列（ILA）施加组合ATPG（自动测试模式生成），可得到不可测故障识别的定理和条件，其条件针对故障电路给出。基于无故......
本文提出了判别时序电路不可测故障的一种有效的方法。它采用了可以在整个电路中传播未知的初始化特征的可控性计算和符号化的模拟......
