半导体性锰硅化物相关论文
利用质量分析的低能双离子束外延技术得到了半导体性的锰硅化物，Mn27Si47和Mn15Si26。俄歇电子谱深度组分测量结果表明，在单晶Si的表......
利用质量分析的低能双离子束外延技术得到了半导体性的锰硅化物 ,Mn2 7Si47和 Mn1 5Si2 6 .俄歇电子谱深度组分测量结果表明 ,在单......
