器件参数波动相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

器件参数波动相关论文

纳米小尺寸MOSFET中热载流子效应研究

可靠性问题始终伴随着超大规模集成电路(VLSI)的发展和应用。随着金属-氧化层-半导体场效晶体管(MOSFET)特征尺寸的不断缩小,热载......

学位

金属-氧化层-半导体场效晶体管(MOSFET) 热载流子注入(HCI) 器件参数波动 HCI退化机理电子-电子散射(EES) 最坏应力条件源漏串联电阻

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