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大直径硅晶片相关论文
超大规模集成电路的一些材料物理问题(Ⅱ)—尺寸缩小带来的巨大挑战
随着CMOS技术缩至100nm或更小,在CMOS器件结构、接触电阻以及大直径硅晶片等方面均遇到一些材料物理的巨大挑战.......
期刊
超大规模集成电路
接触电阻
自对准硅化物
工艺
大直径硅晶片
CMOS
器件结构
材料物理
尺寸缩小
ULSI
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sal
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