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微波光电导衰退法相关论文
表面二次阳极氧化对HgCdTe光导器件性能的影响
采用微波光电导衰退法(μ-PCD)测试了二次阳极氧化膜和传统氧化膜钝化的中波n型HgCdTe芯片的少子寿命。利用俄歇电子能谱(AES)研究了传......
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HGCDTE
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光导型探测器
HgCdTe second anodization μ-PCD AES photocond
基于微波光电导衰退法的新型少子寿命测量仪
本文在传统微波光电导衰退法的基础上,提出了一种可用于测量半导体少数载流子寿命的新型少子寿命测量仪。通过增加频移器和混频器,对......
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微波光电导衰退法
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半导体
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