测试图形相关论文
NAND Flash（NAND闪存,下文提出的闪存均特指NAND型闪存）是存储器中非常重要的一种。随着对存储容量需要的日益增加,2D NAND Flash已......
介绍了一套基于CCD工艺的模型参数提取用测试图形(Testchip)设计方法。该Testchip的设计充分考虑了CCD工艺特征、中测测试条件、CC......
本文对边界扫描测试技术及其在板级测试中的应用进行了研究。文章从工程应用的角度出发，设计开发了一种边界扫描测试系统。该系统由......
作为超大规模集成电路制造中图形转移部分(Pattern Transfer)的关键方法,光刻技术(Photo-lithography)越来越显得举足轻重。特别是......
文章阐述测试图形生成器及其在LINUX下的运行。TPLProg是电子部支持的八五攻关课题，集成电路CAD／CAT工程之一的子项目。它运行于SUNS......
随着CTP技术在市场上的推广，业内人士对CTP技术的进一步认可，CTP在国内的装机量逐渐上升，对设备安装调试后，需要做怎样的验收，成为购买......
为解决VLSI测试中数据量大、功耗高和故障检测难等问题,提出一种易于线性压缩的测试图形生成方法（LCG法）.与传统方法不同,LCG法先解......
结合自适应算法、CX-TB导通测试算法以及二进制计数测试序列,给出了用软件控制EPM9320LC84边界扫描链路,以输出图形并采集引脚对图......
介绍了VL81芯片的测试技术及故障模型，针对一款数字电视接收系统解调芯片，从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化......
针对90nm和65nmDDR（双倍数率）SRAM器件，开展与纳米尺度SRAM单粒子效应相关性的试验研究。分析了特征尺寸、测试图形、离子入射角度、......
本文描述了以某种PCI从设备接口芯片为被测对象的验证平台.原则上,该验证平台适用于从寄存器传输级、门级到布局布线后的各级目的......
数字信号处理器(DSP)由于集成度高,功能复杂,故其测试问题一直是国内难题。本文介绍了数字信号处理器(DSP)的主要特征和发展应用,......
IC制造工艺的发展,持续增加着VLSI电路的集成密度,亦日益加大了电路故障测试的复杂性和困难度.作者在承担相应研究课题的基础上,综......
半导体存储器一般由存储体、地址译码驱动器、读／写放大器和控制电路组成，是一种能存储大量信息的器件，它是由许多存储单元组成的。半......
论文以ADI公司的ADSP-TS201芯片为例，介绍了在自动测试系统上开发DSP测试程序的方法，其中，重点介绍了测试图形生成技术。......
本文讨论了平面四探针测试结构的设计及在测量硅单晶电阻率时应注意之处。测量结果与自制的正方阵列机械四探针及其他单位所用的直......
如何科学有效地生成CPU测试图形，是困扰测试程序开发人员的一个难题。以N80C196KB为例，系统地介绍了一种基于ATE开发CPU测试图形程序......
本文概述了TPM（可信平台模块）安全芯片在信息安全建设中的重要作用，以及TPM安全芯片的特点及测试难点，重点介绍一款TPM安全芯片在测试......
本文概述了TPM（可信平台模块）安全芯片在信息安全建设中的重要作用,以及TPM安全芯片的特点及测试难点,在测试TPM安全芯片过程中,自动......
本文首先分析了大规模数字集成电路测试的特点,接着对几种常用的大规模数字集成电路测试技术作了评述,最后介绍了我们新研制成功的......
首先概述了信息安全芯片的结构、特点及在生产测试中的难点。在生产过程中，自动下载密码时，信息安全芯片可以根据密码算法的具体情况......
自有IC产业以来,如何以最经济,最有效的方式测试IC,而且获得不错的测试品质,始终是非常重要的课题。不管是内存,逻辑产品,还是模拟......
随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片......
电子元器件的质量特别是存储器的质量直接关系到电子设备研制的可靠性水平。因此,在上机之前对所有的存储器必须进行严格的测试和......
本文以Xilinx公司的Virtex型FPGA芯片为实例,研究基于SRAM架构的FPGA芯片的功能测试的测试理论和测试方法。在理论分析的基础上,针......
基于稳态电流测试方法的IDDQ测试,因其故障覆盖率高,在集成电路测试中得以广泛应用.IDDQ测试的概念比较简单,但实现并不容易,特别......
大规模数字集成电路的测试程序开发是个复杂的系统工程，在开发过程中可能会涉及到测试工程师、IC设计工程师、PCB工程师等多方的协......
本文以TI公司的DSP5509A为例，介绍了在ATE上开发DSP芯片的测试程序的思路和方法。本文论述的DSP功能模块的测试算法，指令测试方法，脱......
存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综......
