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时序电路测试产生中一些关键技术的研究
测试费用在芯片成本中所占的比重越来越大。随着当今VLSI电路规模的增大和密度的提高,对电路的测试产生变得十分困难。虽然可测性设......
学位
时序电路
自动测试产生
反馈线
逻辑初始化
逻辑模拟
路径敏化
不可测故障
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