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转移失效率相关论文

表面n沟CCD的电离辐射损伤

本文报道了150光敏元表面n沟CCD(电荷耦合器件)在不同能量电子和γ射线辐照后的电离辐射效应。试验结果表明,转移失效率在≤10Gy时......

期刊

电离辐射损伤 CCD 平带电压累积剂量转移失效率界面态电荷耦合器件剂量辐照表面势 γ射线辐照

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