边界扫描测试技术相关论文
针对数模混合信号电路的测试问题，采用边界扫描测试技术，将被测扩展互连网络等价为独立多端网络，据此提出了一种基于贪婪策略的边界扫......
传统探针测试方法已不再适用于当前集成化程度越来越高的电路，于是边界扫描测试技术应运而生。该技术的原理是在被测电路内部插入边......
随着使用ARM核心处理器作为解决方案的嵌入式智能产品越来越多,基于ARM核心处理器的嵌入式软件调试方法,在开发过程中日益受到人们......
随着技术的不断发展,数字系统的规模变的越来越大,复杂程度越来越高,有关电子系统的安全性与故障维修的问题正变的日益突出。数字......
随着集成电路规模的不断增大，芯片的可测性设计正变得越来越重要。本文介绍了目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构，并给出......
基于边界扫描测试技术的关键之一是测试矢量.本文将遗传算法和神经网络相结合,提出了以高密度PCB为测试对象的GANN算法,并建立了其......
针对现有电路板边界扫描器件与非边界扫描器件同时存在,致使测试覆盖率较低的问题,提出对非BS器件模型化分类的测试方法.以器件的......
边界扫描技术是一种标准化的可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便......
边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案......
边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法，它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的......
随着数字电路的规模越来越大,电路系统越来越复杂,故障诊断的难度不断提高,故障诊断技术已成为一门综合性的热门学科。本文首先引......
随着超大规模集成电路(Very Large Scale Integration,VLSI)技术的迅速发展,包括现场可编程逻辑器件(Field Programmable Gate Arr......
