阱临近效应相关论文
随着半导体向深亚微米和纳米节点发展,版图依赖效应(Layout Dependent Effects,LDE)对器件特性的影响日益突出。在设计过程中,仿真......
根据实际芯片设计中阱临近效应的应用,详细解析了先进工艺下的阱临近效应的机理,分析了由于受到EDA工具限制在设计初期阶前仿真结......
