高层次测试相关论文
							
							
                                 VLSI集成电路芯片测试技术正在向高层次测试推进.针对Verilog硬件描述语言,提出了一种在寄存器传输级(register transfer level,RT......
                                
                                
                            
                                 在高层次测试生成中,为了更好地利用高层次电路的结构信息,以Verilog硬件描述语言描述的电路为研究对象,提出寄存器传输级(RTL)集......
                                
                                
                            
