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支持高速JESD204B接口的产品已大量面世,为满足JESD204B接口芯片量产测试的需求,本文就JESD204B接口芯片开展测试技术研究,提出了......
集成电路制造工艺的不断提高,推动着芯片设计的飞速发展,使得芯片内部的集成度越来越高、接口的通信速度越来越快。但同时,复杂的......
随着集成电路朝着高密度、高速度、高可靠性的方向发展，电路间的数据传输已显得十分重要，由于传统并行接口技术受串扰和时钟同步问题......
随着集成电路复杂度的越来越高,集成电路测试难度也相应增加,部分芯片的制造成本大部分用于芯片测试,芯片成本是芯片生产制造中重......
在高速LVDS集成电路的测试中,由于长距离、高速率下会带来能量损失,这种传输损耗会使信号的高频分量比低频分量损耗更大,而导致驱......
本文首先介绍了芯片行业常用的测试方法和ATE（Automatic Test Equipment）测试的一般原理。根据ADP2381稳压芯片的系统构架和特点给出......
电源的技术含量远没有主板和显卡那么高，但其重要性却不容忽视。劣质电源不仅会损坏硬件，还可能造成人身伤害……想了解一款合格电源......
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普通的缓冲器芯片频率大多只有1~20MHz,但是随着科学技术的不断发展,缓冲器芯片都朝着高速方向发展。这样对于保障芯片质量的集成......
现场可编程门阵列(FPGA)可以重复编程使用,可以根据用户的需要进行电路系统的修改和写入,具有无需特别定制,适用范围广的特点。越......
在绝大多数ATE系统中,从通道驱动器到被测器件(DUT)的输入,以及从DUT输出到通道比较器的通路具有50Ω的特性阻抗。但经常会产生的......
SOC DigRF是基带芯片和Smarti射频芯片之间的高速数字接口,不但满足应用领域用户对于高带宽的数据密集型需求,更是智能移动设备不......
简要的阐述了基于ATE系统的SOC芯片的测试技术，然后重点介绍了SOC芯片中混合信号部分中ADC的测试方法。并对其中起着关键作用的相关......
随着近年来电子信息技术的迅猛发展，电源技术也随之向着高速和高频方向不断发展。因此，电源管理(Power Manage)技术在信息产业技术的......
DC-DC Buck芯片内部的带隙基准电压、参考电压、偏置电流以及振荡器的准确性对芯片的性能有着重要的影响。但是由于半导体制造工艺......
由于数据业务的飞速发展和分布式供电系统的不断推广,DC-DC模块电源的增幅已经超出了一次电源,而且其功率密度也越来越大,对封测得......
