FDR编码相关论文
测试数据压缩是片上系统(System-on-chip,SoC)测试中的关键问题之一,用于有效地减少测试数据总量。本文提出了一种新颖的变长-变长......
由于集成电路设计趋势正快速朝向所谓系统芯片(SoC)设计方法迁移，并且各种预先设计和验证的芯核集成在一个芯片上，对于外部自动测试......
庞大的测试数据量对自动测试设备(ATE)的存储性能、I/O通道数和工作频率提出了更高的要求,同时增加了测试应用时间,提高了测试成本......
本文提出一种基于FDR编码高效测试数据压缩的扫描树结构.首先,我们分析了扫描树技术和FDR编码技术结合的高效性.然后,我们提出......
FDR编码方法有效地降低了测试数据量,但其测试集中的无关位全部填充为0,平均每个测试向量检测的故障数目较少,测试质量较低.为了提......
提出了一种有效的新型测试数据压缩编码——PTIDR编码。该编码方法综合利用哈夫曼编码和前缀编码。理论分析和实验结果表明，在测试......
针对FDR编码算法对1编码效率低的弊端,提出了能同时对0和1编码的改进FDR编码算法,采用基于有限状态机的解码电路设计解码器,利用Go......
文章提出一种基于FDR码改进分组的SoC测试数据压缩方法.经过对原始测试集无关位的简单预处理,提高确定位0在游程中的出现频率.在FD......
为减少测试数据存储量,提出一种有效的新型测试数据压缩编码--PTIDR编码,并构建了基于该编码的压缩/解压缩方案.PTIDR编码能够取得......
测试数据压缩是片上系统（System-on-chip，SoC）测试中的关键问题之一，用于有效地减少测试数据总量。本文提出了一种新颖的变长一变长压......
提出了一种有效的新型测试数据压缩编码——VSFTIDR编码，该编码方法只需对编码字进行移位操作即可得到相应的游程长度，在测试集中0的......
通过改进IFDR码,提出一种基于游程相等编码的改进FDR（ERFDR）方法.首先,该方法不仅能同时对原测试集的0游程和1游程进行编码,而且,当......
