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IC关键面积相关论文
集成电路局部缺陷及其相关的功能成品率和电迁徙问题的研究
本文首先提出了对集成电路制造中局部缺陷的粒径进行分析的局部等效圆形缺陷理论,从而得到了衡量缺陷粒径模型精度的准则。其次,对真......
学位
局部缺陷
IC关键面积
功能成品率
可靠性
电迁徙
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