MARCH算法相关论文
存储器作为片上系统（SoC）中最大和最重要的模块之一，它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率，该文......
存储器内建自测试(memory built-in self-test, MBIST)是当前针对嵌入式随机存储器(E-RAM)测试的一种经济有效的途径.它实质是BIST......
存储器内建自测试(Memory Built-In Self-Test,简称MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法.它通过把存储器测试逻辑做到芯片内......
随着存储技术的不断发展,内存芯片的面积越来越小,容量越来越大,密度越来越高,内存单元发生故障的概率也随之越来越大。根据故障模......
IEEE 802.15.4标准是针对低功耗、低价格的设计和提供低带宽、低速率的应用而提出的一种新兴无线个人局域网技术。它具有组网能力......
一个数字系统在使用的过程中要经历无数次的测试和诊断过程,测试和诊断要求快速,有效(故障覆盖率高).解决问题的方法是将测试变成......
集成电路产业进入深亚微米阶段,芯片规模急剧增大,对于数据信息的巨大存储需求使得嵌入式存储器在片上系统(SOC)中的集成度越来越......
静态随机存储器(SRAM)在轨自检应用于星载电子设备上电初始化过程中,能够在电子设备开始工作前发现存储器的故障单元,为评估电子设......
随着集成电路技术的发展,SoC芯片的尺寸越来越小,但是,SoC芯片的功能却是随之增强。为了满足SoC的强大功能,嵌入在SoC芯片中的存储......
半导体技术的飞速发展使芯片的集成度按摩尔定律持续提高，如今可以在单个芯片上集成几亿个晶体管。这就使得集成电路的测试变的越来......
储器是现代电子系统中不可缺少的一个组成部分。按存储性质分类,可分为:SRAM静态RAM(Static RAM);DRAM动态RAM(Dynamic RAM);PROM......
集成电路设计进入超深亚微米阶段,工程师们大多采用片上系统(System on Chip, SoC)技术和知识产权(Intellectual Property, IP)核......
存储器内建自测试 (memorybuilt-inself-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法 .在一款通用CPU芯片的可测性设计 (desig......
目前应用最多的存储器就是嵌入式存储器,这一类型的存储器在长期的发展进程中,规模和容量逐渐扩大,这就使得针对存储器的测试时间......
随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要,但是测试是FPGA设计中费用最高、难度最大的一个环节。由于片上系统的快速发展,A......
针对LS-DSP中嵌入的128kb SRAM模块,讨论了基于March X算法的BIST电路的设计.根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测......
存储器在SOC中所占的电路面积越来越大，因此存储器的正确与否影响着SOC芯片的成品率。存储器中的故障种类繁多，单一的测试方法不能保......
集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。本文在对存储器的故障模型分析的基础上，对具有代表性的测试算法进行了深入的......
存储器内建自测试（memory built-in self-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法，在一款通用CPU芯片的可测性设计（design-fo......
随着存储器件日益向着高速、高集成方向发展,依靠外部设备对嵌入式存储器的测试变得越来越困难,内建自测试是解决这个问题的有效方......
分析了嵌入式双端口SRAM的故障模型，并在此基础上提出了一种新型的针对嵌入式双端口SRAM的BIST结构；它能够有效地测试双端口SRAM，通过......
为了保证DDRSDRAM功能的完整性与可靠性，需要对其进行测试；文中介绍了一种基于FPGA的可带多个March算法的DDRSDRAM通用测试电路的设......
随着集成电路设计规模的不断增大.在芯片中特别是在系统芯片SOC(system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要.......
内建自测试（BIST）为嵌入式存储器提供了一种有效的测试方法.详细介绍了存储器故障类型及内建自测试常用的March算法和ROM算法.在一款......
为测试DICE结构抗辐射静态随机存储器(Static random-access memory,SRAM)在生产制造后是否存在故障,针对DICE结构抗辐射SRAM设计......
随着嵌入式存储器规模的不断增大,BIST成为一种节省存储器测试时间和测试成本的有效手段.March算法是当前MBIST设计中最适合的算法......
存储器内建自测试（MBIST）技术在存储器测试中具有广泛应用,针对传统寄存器传输级描述语言设计BIST控制器的过程相对繁琐、专用EDA工......
当今，嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大，成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于本身单元密度很高，嵌入式存储器比芯片上......
板级SRAM的内建自测试的设计,是为了确保板级SRAM的可靠性.考虑到板级SRAM各种故障模型,选择使用March C-SOF算法,其对呆滞故障、......
本文提出一种新型的可编程存储器BIST控制器设计.它使用新型的指令格式,可以实现各种March算法.通过使用这种指令格式能减少指令数......
本文对随机存储器各类故障的失效机制和当前已有的解决算法做了简要介绍,进而对该问题更好的解决和各个指标的优化平衡提出了一种......
随着IC制造工艺技术的改进和完善,片上系统的集成度越来越高,片上系统中嵌入式存储器的比例也在不断增加。然而,复杂的新工艺也更......
随着集成电路设计规模的不断增大，在系统芯片SoC（System on a Chip）中嵌入大量的SRAM存储器的设计方法变得越来越重要。文中介绍了SRA......
研究高效率的系统故障测试算法，建立有效的嵌入式存储器测试方法，对提高芯片良品率、降低芯片生产成本，具有十分重要的意义。从存储器......
为了满足不同的应用场景,SRAM的低功耗技术成为业内的研究热点,其中最直接有效的低功耗设计方法就是降低工作电压。随着制造工艺的......
FinFET作为现在最前沿的晶体管技术,在嵌入式存储器上得到了广泛应用.但是,新的工艺也带来了新的缺陷.Synopsys公司通过故障建模及......
在研究静态随机存储器故障模型以及常用功能验证方法的基础上，提出采用MarchSOF算法结合故障注入的EDAC测试程序作为宇航用带EDAC功......
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本文主要讲述内存芯片的测试方法,并在国产集成电路测试系统上完成测试.通过硬件算法图形产生器模块弥补自动测试系统数字通道图形......
针对March类内存检测算法越来越复杂、检测时间越来越长，且更适用于对嵌入式内存芯片的检测等问题，提出一种结合硬件特征的并行内存......
为了满足航空高安全电子设备领域的高可靠性和高安全性,解决内存故障给系统带来的不稳定性,针对内存的故障类型和典型的内存测试场......
随着集成电路技术得到了飞速的发展,单一硅片上能够集成上亿个晶体管,这样就使原来有多个芯片协作才能实现的复杂系统,通过单一芯......
本文描述了动态字存储器测试的故障模型并分别分析了其单个单元故障 ,字内耦合故障 ,字间耦合故障的测试算法 ,并综合得到最优的动......
随着集成电路设计和制造技术的不断进步,芯片的集成度和复杂度正按照摩尔定律的速度持续提高。尤其是超深亚微米(VDSM)工艺的使用,......
随着超大规模集成电路(VLSI)技术的不断成熟，芯片的集成度正按照摩尔定律的速度持续提高，芯片的测试问题已成为制约整个行业发展的瓶......
随着深亚微米技术的发展,嵌入式存储器在片上系统芯片(SoC)上占有越来越多的比重。由于嵌入式存储器中晶体管密集,存在高布线密度......
随着深亚微米等高科技技术的发展，存储器在SoC以及所有集成电路产品中所占的地位变得越来越重要。存储器芯片的容量变得越来越大，集......
