TAP控制器相关论文
该课题是对"八五"期间研制的受控器设计和测试系统进行改进,使之具有更强的实用性.论文中在研究边界扫描测试标准对体系结构中受控......
提出了一种利用ARM7TDMI的JTAO接口验证SoC测试的方法。该方法可在RTL验证时即可使用：分析了JTAO的标准和ARM7TDMI扫描链的标准；从中......
对模拟芯片边界扫描测试方法进行了研究，结合IEEE1149．1标准框架结构和IEEE1149．4标准混合信号测试总线思想构建了模拟芯片边界扫描测......
在JTAG工业标准的基础上，为“龙腾R2”微处理器提出了一种在线调试系统的实现方案。通过扩展JTAG的TAP控制器，并在微处理器内部加入......
简要阐述了边界扫描测试的基本用途，介绍了边界扫描的结构及特点；分析了JTAG的命令和使用方法、测试向量的生成方法：最后给出三个应用......
随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。目前,可测性设计已成为解决测试问题的主要手段之一,......
在边界扫描协议的实现过程中,TAP控制器的地位比较突出,是非常重要的一块.本文从协议要求出发,使用Verilog-XL对TAP控制器进行逻辑......
集成电路规模的不断增加,使测试的开销在产品总成本中所占的比重越来越大,测试的过程更为复杂,因此对电路芯片需要采用边界扫描测......
JTAG规范是一种标准化的电路测试和可测试性设计方法,它在工业界得到了广泛的应用。JTAG规范不仅大大降低了电路板测试的成本和时......
随着集成电路和印制电路板技术的发展,电子设备的集成度越来越高,传统方法已经渐渐难以实现对高集成度电路板的访问,如进行互连测......
