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TSV硅转接板相关论文
基于Weibull分布2.5D封装热疲劳可靠性评估
针对2.5D立体封装中热膨胀系数及结构尺寸均存在较大差异、极易在热应力作用下产生热疲劳失效的可靠性问题,开展多芯片硅基集成封......
期刊
2.5D封装
TSV硅转接板
温度交变
WEIBULL分布
可靠性评估
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