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VLSI统计分析相关论文

工艺波动对纳米尺度MOS集成电路性能影响模型与相关方法研究

随着半导体工艺的特征尺寸进入纳米数量级,日趋复杂的硅基MOS集成电路(Integrated Circuit IC)制造流程使得精确的工艺控制变得越......

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纳米工艺 MOS器件工艺波动器件模型集成电路CAD VLSI统计分析

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