Xe离子相关论文
离子辐照会影响半导体器件的性能,进而使得器件在空间辐射等特定环境条件下的工作寿命和可靠性退化.研究了经过1 MeV Xe离子辐照后......
本文测量了200~550 keV的Xe10+离子轰击高纯度(99.99%)Al表面诱发的溅射Al原子的光发射,研究了AlⅠ308.10、309.14、394.52、396.2......