提出了一种新的使用光纤光栅测电磁场的方法,依据磁场与光纤光栅偏振相关损耗(PDL)成正比的原理,运用1/4波片转化左、右旋圆偏振光......

应用穆勒(Müller)矩阵对硅基平面光波导线路(P1anar lightwave circuit PLC)补偿器中PDL对差分群时延(Differential group de......

数值分析了40Gb／s占空比50％的归零码（RZ）、占空比38％的RZ和载波抑制归零码（CSRZ）3种不同码型系统中偏振相关损耗（PDL）对偏振模色散（PMD）补偿的......

研究一种沿表面膜系厚度线性变化型介质薄膜滤波器（TFF）.从理论分析了介质层相对于基底的倾斜角对滤波片偏振相关损耗（PDL）、调谐偏移......

使用线偏振扫描法来对光无源器件的偏振相关损耗进行测量，采用了基于单片机的步进电机带动偏振片旋转。重点阐述光路设计和偏振模块......

针对硅基二氧化硅阵列波导光栅解复用器(AWG DEMUX)的偏振相关损耗(PDL)进行了优化。理论分析了引起AWG偏振相关性的物理因素以及......

光无源器件测试系统是光无源器件生产工艺的重要组成部分,是检测和判定光无源器件Pass/Fail的标准。而测试系统由于采用的测试仪器......