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电子设备电路系统设计随着深亚微米集成电路技术的进步，通常在同一IC上集成模拟-数字混合电路信号用于减少成本和竞争优势。数字电......
期刊
为了降低测试功耗,提出一种新的低功耗测试矢量方案,该方案增设了一个可编程的约翰逊计数器。这种技术首先对确定测试矢量进行编码......
文章提出了一种简单有效的双矢量测试BIST实现方案,其硬件主要由反馈网络可编程且种子可重置的LFSR和映射逻辑两部分构成.给出了一......
提出了一种综合测试数据压缩方案。它是在折叠压缩的基础上，利用统计码进行优化，二次压缩测试数据，给出了解压逻辑结构和状态转换图。......
为有效降低确定性内建自测试的存储要求，提出一种结合扭环计数器TRC和Golomb编码的二维测试数据压缩的确定性内建自测试方案．首先利......
近年来,随着电子信息产业的飞速发展,各种设计新颖、工艺精细的集成电路不断出现,而且在军用、民用、商用各个行业的应用也越来越......
基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需......
随着超大规模集成电路(VLSI)技术的不断成熟，芯片的集成度正按照摩尔定律的速度持续提高，芯片的测试问题已成为制约整个行业发展的瓶......
随着集成电路制造工艺的进步和电路规模的扩大,芯片设计进入片上系统(System on a Chip,SoC)时代。由于片上系统嵌入了各种芯核,出......
学位
随着现代VLSI设计技术和制造工艺的飞速发展,片上存储器容量日渐增大,特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入到片内的设计方......
空间辐射环境下,星载微处理器中的半导体器件易发生单粒子效应,导致微处理器发生故障,严重影响航天器或卫星的可靠性和寿命。当星......
阻变随机存储器(RRAM)中存在的故障严重影响产品的可靠性和良率。采用精确高效的测试方法能有效缩短工艺优化周期,降低测试成本。......
