分立器件测试系统相关论文
随着半导体分立器件技术的不断发展,中国已经成为世界上分立器件的制造大国。分立器件的测试需求大大增长,对测试机的需求也急剧增......
JUNODTS-1000测试系统是有能公司设计的高速半导体分立器件测试系统。使用中,DTS-1000测试系统和自动探针台联机进行芯片测试。生......
本文介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X和CPLD的分立器件测试主机系统总线控制器,此控制器用在基于总线架构的半导体分立器件测试......
为解决目前国内分立器件测试系统成本高,可维护性低等特点,开发了一套性价比高、操作简单、自动化程度较高的测试系统。并采用层次......
