半导体器件并联系统相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

半导体器件并联系统相关论文

半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法

为了提高机载开关电源中半导体器件并联系统可靠性评估的准确性,运用经验Bayes法和经典的统计方法,研究了该系统的可靠性评估问题.......

期刊

半导体器件并联系统可靠性评估经验Bayes方法 semiconductor parallel system reliability evaluation e

看过本文同时还关注