半导体特性分析系统相关论文
文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间.......
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4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—VN量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能......
Two-step growth regimes were applied to realize a homoepitaxial growth of ZnO films on freestanding diamond substrates b......
吉时利（Keithley）仪器公司日前宣布在4200型半导体特性分析系统中新增脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的......
吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统......
吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪......
针对不断增长的测量需求提供解决方案的吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE：KEI），日前发布6．1版交互式KTEI及功能强大的KTEI（吉时利交互式测试......
Lattice-matched InAlN/AlN/GaN high electron mobility transistors (HEMTs) grown on sapphire substrate by using low-pressu......
吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU，为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意......
吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CU。4200-CVU能以测量模块的形式插入......
本半导体特性分析系统是集半导体特性分析仪和探针台为一体的电学综合测试分析系统,主要用于常规半导体器件和纳米器件的电学性能......
