可接受域相关论文
集成电路(IC)的成品率研究一直是可制造工程和设计研究的主要内容之一.随着超深亚微米VLSI技术的发展,而由工艺扰动引起的参数成率......
提出了一种新的电路统计中心设计方法，并从数学角度严格论证了变样本的ＭａｎｔｅＣａｒｌｏ中心设计问题，导出了一种随机搜索方向，阐明了某些概述密度函数......
本文由大样本抽样效应,提出了电路可接受域的正态窗模型,导出了电路指标约束在元件参数空间映射的正态窗函数;提出了一阶矩轨迹的......
基于对集成电路参数成品率中心值设计和容差分配的研究,该文提出了一种参数成品率中心值设计和容差分配耦合求解最优设计值的算法......
本文对集成电路(IC)制造过程中的参数成品率问题进行了系统的研究，主要贡献和结果如下： 在中心值设计和容差分配的基础上，提出了一......
从地理空间数据不确定性理论出发,提出了矢量化多边形的优化方法。该方法通过对矢量多边形进行"磨角插值"和基于可接受域限定的自......
