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围栅纳米线器件相关论文
纳米尺度MOS器件可靠性及动态涨落研究
五十年多年来,半导体集成电路技术不断提高,向着高集成度,高性能,低功耗和多功能的方向发展。这得益于构成其基本单元的MOS器件特征尺......
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