工业计算机断层扫描成像技术相关论文
在X射线工业计算机断层扫描成像技术(X-ICT)中,X射线源的能谱I0(E)为入射强度随能量E的分布函数.而分布函数I0(E)与E的关系随X射线......
X射线透射复合材料时发生了康普顿散射现象、二次射线的辐射和多次射线辐射．基于Beer定律，探讨了X射线在复合材料中的二次射线与一次......
工业计算机断层扫描成像中，由于X射线能谱具有多色性，X射线在透射物质时，能量较低的射线优先被吸收，也即较高能量的X射线的衰减系数比......
主要研究了连续谱X射线在透射式ICT中射入待测物质体内时发生的康普顿散射现象和二次射线辐射的散射问题。X射线透射物质时,将引起......
在X射线工业计算机断层扫描成像技术（ICT）中，连续谱X射线透射物质时，发生了光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。......
在X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术（X-TICT）中，X射线透射物质时，发生了Compton光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探......
