改进测试环单元相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

改进测试环单元相关论文

面向IP核测试复用的测试环设计

提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决......

期刊

IP核测试复用设计改进测试环单元三态测试环系统芯片半导体制造技术 Microprocessor chips Semiconductor devices

可复用IP核以及系统芯片SOC的测试结构研究

随着集成电路制造技术的快速发展，系统芯片SOC逐渐成为现实。SOC将一个完整的系统集成在单个芯片上，从而缩小了系统的体积；SOC减少了S......

学位

复用IP核系统芯片SOC 测试复用测试结构三态测试环改进测试环单元芯片级测试控制器测试调度

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