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近年来，随着器件特征尺寸和栅氧层厚度的缩小，特别是进入超深亚微米阶段，PMOSFET的负栅压偏置不稳定（Negative bias temperature insta......
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生......
研究了在热载流子注入HCI(hot-carrier rejection)和负偏温NBT(negative bias temperature)两种偏置条件下pMOS器件的可靠性．测量了......
研究了深亚微米pMOS器件的热载流子注入（hot—carrier injection，HCI）和负偏压温度不稳定效应（negative bias temperature instability......
研究了深亚微米PMOS器件在负偏压温度 (negativebiastemperature,NBT)应力前后的电流电压特性随应力时间的退化 ,重点分析了NBT应......
