测试排序相关论文
在工业生产流程中,自动化功能测试设备可以保证出厂产品的安全性和质量。在家用电器领域,产品的安全性和质量是家用电器的两个最重......
研究了多模式系统的测试顺序优化问题基于不同模式下测试与故障之间的依赖关系，结合系统故障的先验概率、可用测试的成本以及不同模......
本文针对三维芯片测试,首先提出了一种扫描结构,这种结构考虑了硅通孔（through silicon vias）互连的代价,在有效的降低测试时间的同......
针对电子系统的可测试性设计和故障诊断中测试排序问题,提出了一种改进的优选测试点和故障诊断树生成算法。在相关性矩阵模型的基......
随着嵌入式领域应用需求的不断提高,多核处理器的体系结构变得愈加复杂,设计规模越来越庞大。功能验证已经成为多核处理器设计过程......
学位
为降低大型航空电子设备故障诊断费用,研究测试性优化设计中的测试排序问题。以相关性模型为基础,采用"并行工程"的思想,以平均测......
针对复杂电子设备的顺序故障诊断策略问题,为实现快速的故障检测与隔离,提出了一种基于故障特征信息熵的故障诊断策略树生成算法。......
