界面反应扩散模型相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

界面反应扩散模型相关论文

HfO<,2>高K栅介质MOS器件的时变击穿和阈值电压不稳定性问题研究

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金属栅结构高k栅结构 CMOS器件时变击穿阈值电压不稳定性电场依赖界面反应扩散模型

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