痕量杂质测定相关论文
本文采用ICP-AES摄谱法,观察了铁基体在较低观测高度时对其它共存痕量杂质测定的干扰效应,建立了铁基体样品无基体匹配定量分析方......
采用辉光放电质谱法(GDMS)对高纯半导体材料锑中的Mg、Si、S、Mn等14种痕量杂质元素进行测量.对仪器工作参数进行了优化选择,并对......
采用辉光放电质谱(GD—Ms)对碲、镉原材料中锂、硼、钠、铝、硅、铁、铜、锌、镓、却、银、金、铅、铀等62个杂质元素进行了测试,并与......
本文采用辉光放电质谱法对高纯铝材料中的9种痕量杂质元素进行测量。对仪器工作参数进行了优化选择,并对质谱干扰对测量的影响进行......