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基于部分扫描的跳变时延故障测试及ATPG方法的研究
当前在工业上对集成电路的故障测试主要还集中于呆滞型故障的检测,而随着半导体技术的高速发展,使得芯片的运行速率不断上升,工艺的特......
学位
部分扫描
跳变时延故障测试
增强扫描触发器
宽边测试
自动向量生成
集成电路
ATPG
SOC设计中IP核的测试方法与应用
随着半导体工艺的进展和设计水平的提高,芯片设计业已进入了SOC(系统级芯片)时代。单个芯片上集成了更多数量的晶体管,能够完成更加......
学位
SOC
IP复用
可测性设计
内建自测试
确定性自测试
自动向量生成
线性反馈移位寄存器
伪随机向量生成
多输入鉴别码
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