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跳跃电导机制相关论文
基于电容结构的α-SiGe:H膜电学退化特性
针对航天一次可编程(OTP)存储器高可靠应用需求,基于电容结构和肖特基接触模型,分析得出α-SiGe∶H膜退化前电流传输机制较好地符......
期刊
一次可编程(OTP)存储器
α-SiGe∶H膜
肖特基接触
热电子发射-扩散模型
跳跃电导机制
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