迁移率谱分析相关论文
本文主要是利用深低温强磁场条件下的变磁场霍耳效应和多载流子输运理论分析—迁移率谱分析技术，研究了硅量子点结构、硅量子点薄膜......
本文主要是利用深低温强磁场条件下的变磁场霍耳效应测量和Shubnikov-de Hass(SdH)测量,并借助多载流子输运分析——迁移率谱分析......
