逻辑内建自测试设计(LBIST) 相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

逻辑内建自测试设计(LBIST)相关论文

基于M8051 IP软核的改进性设计与重应用研究

半导体技术的进步使得在单个芯片上集成数以百万计的门电路成为可能,在单个芯片上实现的包含一个印制板上所有电路的系统称作片上......

学位

集成电路(IC) 知识产权(IP) 片上系统(SoC) 可测性设计(DFT) 逻辑内建自测试设计(LBIST) IC总线现场可编程门阵列(FPGA)

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