集成电路生产过程相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

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改善球焊工艺

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长寿命MOS C—V分析方法——用于MOS电路参数失效分析

为了能及时地直接分析 PCM（Process Control Monitor）参数异常及电路失效原因,我们在 PCM 参数测试系统（如 HP4062,Ag 4070系列）上开发......

期刊

MOS C-V分析方法电路参数失效使用寿命氧化物电荷密度集成电路生产过程电容编程测试

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