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He离子注入GaAs晶体的辐照损伤特性研究
He离子注入GaAs晶体的辐照损伤特性研究
来源 :第十三届全国正电子谱学会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xinzhichaoniao
【摘 要】
:
GaAs作为近年来应用于光电器件及探测器等领域的重要材料,它的光学电学等物理特性在很大程度上受到其晶体结构及缺陷的影响。有意或无意的粒子辐照都可能引入包括点缺陷,位
【作 者】
:
谷冰川
许红霞
徐菊萍
刘建党
叶邦角
【机 构】
:
核探测与核电子学国家重点实验室,合肥,230040;中国科学技术大学近代物理系,合肥,230040中国科学院上海应用物理研究所材料二部,上海,201800
【出 处】
:
第十三届全国正电子谱学会议
【发表日期】
:
2016年8期
【关键词】
:
GaAs
辐照损伤
慢正电子束
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GaAs作为近年来应用于光电器件及探测器等领域的重要材料,它的光学电学等物理特性在很大程度上受到其晶体结构及缺陷的影响。有意或无意的粒子辐照都可能引入包括点缺陷,位错等等晶格的缺陷损伤,从而影响器件的光电性质。
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