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本文阐述了二个常用的LED器件失效物理模型，采用这些模型对几个LED失效模式和失效机理进行分析，并说明相应的可靠性改善方法，给出LED可靠性试验条件及其可靠性筛选原理。
发光二极管失效物理的探讨
【摘 要】
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本文阐述了二个常用的LED器件失效物理模型，采用这些模型对几个LED失效模式和失效机理进行分析，并说明相应的可靠性改善方法，给出LED可靠性试验条件及其可靠性筛选原理。
【机 构】
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厦门三安电子有限公司(361009),厦门
【出 处】
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第十一届全国LED产业与技术研讨会
【发表日期】
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2008年3期
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