集成电路测试是集成电路产业中非常重要的一环,集成电路测试系统是实现集成电路测试必不可少的工具。由于现场可编程逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)可编程性强,应用灵活的优点,近年来,国内出现了许多基于FPGA设计的小规模集成电路测试系统。此类系统采用定制化方法设计测试板及测试交互软件系统,因此通用性较低,二次开发成本较高,存在着许多应用限制。如何设计通用、低成本的集成电路测试系统成了行业内研究的热点问题。本文以48及以下管脚常见集成电路作为研究对象,在中科院微电子所自主研发的V58300 FPGA硬件平台基础上,拓展其原有定制式测试板、测试程序开发方法,研究和建立了通用的测试板和测试交互软件系统。测试板是测试系统与被测芯片间信号传输的媒介。测试交互软件系统包含计算机软件和FPGA软件,计算机软件用于控制测试系统和显示测试结果,FPGA软件用于生成测试激励和测试结果。本文通过设计可选择管脚属性的被测芯片插座连接电路结构,设计实现了通用测试板。该测试板可实现测试系统与不同被测芯片的准确连接。接着,以目前应用领域和测试需求最为广泛的静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)类集成电路为被测目标,在传统测试交互软件系统架构的基础上增加了可配置的信号映射电路,设计实现了通用SRAM类集成电路测试交互软件系统,该测试软件系统可对不同规格SRAM类芯片进行功能测试。然后进一步扩大被测目标范围,模拟集成电路自动测试机台原理,以集成电路研发过程中所产生的功能测试向量作为输入,建立了通用集成电路测试交互软件系统,该测试软件系统可适配所有48管脚及以下集成电路的功能测试。最后对比了两种系统的相关指标,探讨了两种测试系统的优劣。本文基于V58300 FPGA硬件平台设计的通用测试板及两种测试交互软件成功克服了目前国内小规模集成电路测试系统通用性差、二次开发成本高的缺点。经过多次对比实验和对多种芯片的实测,验证了两种系统的可靠性和通用性。证明了本文所述系统可应用于多种测试场景,为小规模集成电路功能测试系统提供了一种可靠、通用的设计方案,具有十分重要的应用意义。